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Typ |
Beschreibung |
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HEITRONICS CT09 |
Infrarot Strahlungsthermometer
Universelle Anwendungen
Edelstahlgehäuse IP 65
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,2 °C
Messbereiche 0 - 900°C
Einstellzeiten 50 ms - 10 s
Genauigkeit ± 1,0 °C
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 1 mm
Marker Laserpointer
Spektralbereich 8 - 14 μm
Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT09 DE [pdf, 412.94 KB] Datenblatt CT09 EN [pdf, 413.97 KB] |
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HEITRONICS CT11 |
Infrarot Strahlungsthermometer
Universelle Anwendungen
Edelstahlgehäuse IP 68
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,1 °C
Messbereiche 0 - 2000°C
Einstellzeiten 50 ms - 10 s
Genauigkeit ± 0,8 °C
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 1 mm
Marker Laserpointer
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT11 DE [pdf, 421.67 KB] Datenblatt CT11 EN [pdf, 429.62 KB] |
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HEITRONICS CT13 |
Infrarot Strahlungsthermometer
Universelle Anwendungen
Edelstahlgehäuse IP 68
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,2 °C
Messbereiche 0 - 2000°C
Einstellzeiten 30 ms - 10 s
Genauigkeit ± 0,8 °C
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 1,1 mm
Marker Pilotlaser
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT13 DE [pdf, 431.33 KB] Datenblatt CT13 EN [pdf, 441.29 KB] Datenblatt CT13.77 DE [pdf, 455.36 KB] Datenblatt CT13.77 EN [pdf, 454.35 KB] |
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HEITRONICS CT15 |
Infrarot Strahlungsthermometer
Universelle Anwendungen
Edelstahlgehäuse IP 68
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,03 °C
Messbereiche -25 - 2500°C
Einstellzeiten 5 ms - 10 s
Genauigkeit ± 0,8 °C
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 1,1 mm
Marker Fokus-/ Pilotlaser
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt CT15 DE [pdf, 578.01 KB] Datenblatt CT15 EN [pdf, 578.92 KB] |
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HEITRONICS CT18 |
Infrarot Strahlungsthermometer
Hohe Temperaturen Metallverarbeitung
Edelstahlgehäuse IP 65
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,01 °C
Messbereiche 200 - 3000°C
Einstellzeiten 1 ms - 10 s
Fokussierbare Objektive
Linearisierungsgenauigkeit 0,02K
Genauigkeit unter 0,01 %
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 0,4 mm
Marker Fokuslaser/Durchblicksucher
Spektralbereiche 1,0 µm oder 1,6 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V
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Datenblatt CT18.03 DE [pdf, 738.13 KB] Datenblatt CT18.03 EN [pdf, 579.44 KB] Datenblatt CT18.04 DE [pdf, 706.78 KB] Datenblatt CT18.04 EN [pdf, 579.50 KB] |
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HEITRONICS CT18LL |
Infrarot Strahlungsthermometer LWL
Hohe Temperaturen Metallverarbeitung
Lichtwellenleiter mit Objektiv (LWL)
Edelstahlgehäuse IP 65
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,01 °C
Messbereiche 200 - 3000°C
Einstellzeiten 1 ms - 10 s
Fokussierbare Lichtleiter Objektive
Linearisierungsgenauigkeit 0,02K
Genauigkeit unter 0,01 %
Langzeitstabilität 0,01% pro Monat
Messfelder ab 0,4 mm
Marker Pilotlaser/Durchblicksucher
Spektralbereiche 1,0 µm oder 1,6 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V
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Datenblatt CT18.03LL DE [pdf, 559.40 KB] Datenblatt CT18.03LL EN [pdf, 408.16 KB] Datenblatt CT18.04LL DE [pdf, 556.21 KB] Datenblatt CT18.04LL EN [pdf, 407.54 KB] |
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HEITRONICS KT15II |
Infrarot Strahlungsthermometer
Universelle Anwendungen
Beste Performance und höchste Genauigkeit
Schutzgrad IP 65
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,03 °C
Messbereiche -50 - 3000°C
Einstellzeiten 5 ms - 600 s
Linearisierungsgenauigkeit 0,02K
Genauigkeit unter 0,01 %
Messfelder ab 0,7 mm
Marker Fokuslaser
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt KT15II DE [pdf, 468.38 KB] Datenblatt KT15II EN [pdf, 828.58 KB] |
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HEITRONICS LT13EB |
Infrarot Strahlungsthermometer
Niedrige Emissionsgrade (> 0,02)
Hoch reflektierender Goldspiegel
Definierter Messfleck
Edelstahlgehäuse IP 68
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Emissionsgrade ab 2 %
Messbereiche 0 - 500°C
Einstellzeiten 50 ms - 10 s
Messfelder ab 5 mm
Marker Pilotlaser
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm |
Datenblatt LT13EB DE [pdf, 389.55 KB] Datenblatt LT13EB EN [pdf, 389.05 KB] |
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HEITRONICS LT15EB |
Infrarot Strahlungsthermometer
Niedrige Emissionsgrade (> 0,02)
Hoch reflektierender Goldspiegel
Definierter Messfleck
Edelstahlgehäuse IP 68
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Emissionsgrade ab 2 %
Messbereiche 0 - 2000°C
Einstellzeiten 50 ms - 600 s
Messfelder ab 5 mm
Marker Pilotlaser
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm |
Datenblatt LT15EB DE [pdf, 389.85 KB] Datenblatt LT15EB EN [pdf, 93.02 KB] |
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HEITRONICS KT19II |
Infrarot Strahlungsthermometer
High End Anwendungen
Beste Performance und höchste Genauigkeit
Schutzgrad IP 65
Patentiertes Wechsellichtverfahren
Temperaturauflösung NETD 0,03 °C
Messbereiche -100 - 3000°C
Einstellzeiten 5 ms - 10 min
Linearisierungsgenauigkeit 0,02K
Genauigkeit unter 0,01 %
Messfelder ab 0,7 mm
Marker Fokuslaser
Durchblicksucher mit Messwertanzeige
Höchste Messgenauigkeit und Langzeitstabilität
Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm
Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt KT19II DE [pdf, 495.07 KB] Datenblatt KT19II EN [pdf, 419.07 KB] |
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HEITRONICS T24II |
Netzteil
zur Versorgung von Infrarot Strahlungsthermometern und LineScannern
Ausgangsspannung 24 VDC, 420 mA
Versorgungsspannung 80 ... 305 VAC (47 ... 63 Hz) oder 113 ... 430 VDC
Das Gerät bietet die Möglichkeit, die Anschlussleitungen eines Pyrometers komplett aufzulegen und die verschiedenen Funktionen in unterschiedlichen Leitungen zu verteilen.
So ist es z.B. möglich, Analogausgang und Schnittstelle getrennt voneinander in unterschiedlichen Kabeln weiterzuleiten |
Datenblatt T24II DE [pdf, 441.34 KB] |
