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Beschreibung |
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HEITRONICS CT09 |
Infrarot Strahlungsthermometer Universelle Anwendungen Edelstahlgehäuse IP 65 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,2 °C Messbereiche 0 - 900°C Einstellzeiten 50 ms - 10 s Genauigkeit ± 1,0 °C Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 1 mm Marker Laserpointer Spektralbereich 8 - 14 μm Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT09 DE [pdf, 412.94 KB] Datenblatt CT09 EN [pdf, 413.97 KB] |
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HEITRONICS CT11 |
Infrarot Strahlungsthermometer Universelle Anwendungen Edelstahlgehäuse IP 68 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,1 °C Messbereiche 0 - 2000°C Einstellzeiten 50 ms - 10 s Genauigkeit ± 0,8 °C Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 1 mm Marker Laserpointer Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT11 DE [pdf, 421.67 KB] Datenblatt CT11 EN [pdf, 429.62 KB] |
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HEITRONICS CT13 |
Infrarot Strahlungsthermometer Universelle Anwendungen Edelstahlgehäuse IP 68 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,2 °C Messbereiche 0 - 2000°C Einstellzeiten 30 ms - 10 s Genauigkeit ± 0,8 °C Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 1,1 mm Marker Pilotlaser Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm Analogausg 0/4 - 20 mA |
Datenblatt CT13 DE [pdf, 431.33 KB] Datenblatt CT13 EN [pdf, 441.29 KB] Datenblatt CT13.77 DE [pdf, 455.36 KB] Datenblatt CT13.77 EN [pdf, 454.35 KB] |
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HEITRONICS CT15 |
Infrarot Strahlungsthermometer Universelle Anwendungen Edelstahlgehäuse IP 68 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,03 °C Messbereiche -25 - 2500°C Einstellzeiten 5 ms - 10 s Genauigkeit ± 0,8 °C Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 1,1 mm Marker Fokus-/ Pilotlaser Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt CT15 DE [pdf, 578.01 KB] Datenblatt CT15 EN [pdf, 578.92 KB] |
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HEITRONICS CT18 |
Infrarot Strahlungsthermometer Hohe Temperaturen Metallverarbeitung Edelstahlgehäuse IP 65 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,01 °C Messbereiche 200 - 3000°C Einstellzeiten 1 ms - 10 s Fokussierbare Objektive Linearisierungsgenauigkeit 0,02K Genauigkeit unter 0,01 % Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 0,4 mm Marker Fokuslaser/Durchblicksucher Spektralbereiche 1,0 µm oder 1,6 µm Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt CT18.03 DE [pdf, 738.13 KB] Datenblatt CT18.03 EN [pdf, 579.44 KB] Datenblatt CT18.04 DE [pdf, 706.78 KB] Datenblatt CT18.04 EN [pdf, 579.50 KB] |
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HEITRONICS CT18LL |
Infrarot Strahlungsthermometer LWL Hohe Temperaturen Metallverarbeitung Lichtwellenleiter mit Objektiv (LWL) Edelstahlgehäuse IP 65 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,01 °C Messbereiche 200 - 3000°C Einstellzeiten 1 ms - 10 s Fokussierbare Lichtleiter Objektive Linearisierungsgenauigkeit 0,02K Genauigkeit unter 0,01 % Langzeitstabilität 0,01% pro Monat Messfelder ab 0,4 mm Marker Pilotlaser/Durchblicksucher Spektralbereiche 1,0 µm oder 1,6 µm Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt CT18.03LL DE [pdf, 559.40 KB] Datenblatt CT18.03LL EN [pdf, 408.16 KB] Datenblatt CT18.04LL DE [pdf, 556.21 KB] Datenblatt CT18.04LL EN [pdf, 407.54 KB] |
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HEITRONICS KT15II |
Infrarot Strahlungsthermometer Universelle Anwendungen Beste Performance und höchste Genauigkeit Schutzgrad IP 65 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,03 °C Messbereiche -50 - 3000°C Einstellzeiten 5 ms - 600 s Linearisierungsgenauigkeit 0,02K Genauigkeit unter 0,01 % Messfelder ab 0,7 mm Marker Fokuslaser Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt KT15II DE [pdf, 468.38 KB] Datenblatt KT15II EN [pdf, 828.58 KB] |
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HEITRONICS LT13EB |
Infrarot Strahlungsthermometer Niedrige Emissionsgrade (> 0,02) Hoch reflektierender Goldspiegel Definierter Messfleck Edelstahlgehäuse IP 68 Patentiertes Wechsellichtverfahren Emissionsgrade ab 2 % Messbereiche 0 - 500°C Einstellzeiten 50 ms - 10 s Messfelder ab 5 mm Marker Pilotlaser Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm |
Datenblatt LT13EB DE [pdf, 389.55 KB] Datenblatt LT13EB EN [pdf, 389.05 KB] |
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HEITRONICS LT15EB |
Infrarot Strahlungsthermometer Niedrige Emissionsgrade (> 0,02) Hoch reflektierender Goldspiegel Definierter Messfleck Edelstahlgehäuse IP 68 Patentiertes Wechsellichtverfahren Emissionsgrade ab 2 % Messbereiche 0 - 2000°C Einstellzeiten 50 ms - 600 s Messfelder ab 5 mm Marker Pilotlaser Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm |
Datenblatt LT15EB DE [pdf, 389.85 KB] Datenblatt LT15EB EN [pdf, 93.02 KB] |
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HEITRONICS KT19II |
Infrarot Strahlungsthermometer High End Anwendungen Beste Performance und höchste Genauigkeit Schutzgrad IP 65 Patentiertes Wechsellichtverfahren Temperaturauflösung NETD 0,03 °C Messbereiche -100 - 3000°C Einstellzeiten 5 ms - 10 min Linearisierungsgenauigkeit 0,02K Genauigkeit unter 0,01 % Messfelder ab 0,7 mm Marker Fokuslaser Durchblicksucher mit Messwertanzeige Höchste Messgenauigkeit und Langzeitstabilität Spektralbereiche 2 µm - 8 - 20 µm Analogausg 0/4 - 20 mA, 0 - 10 V |
Datenblatt KT19II DE [pdf, 495.07 KB] Datenblatt KT19II EN [pdf, 419.07 KB] |
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HEITRONICS T24II |
Netzteil zur Versorgung von Infrarot Strahlungsthermometern und LineScannern Ausgangsspannung 24 VDC, 420 mA Versorgungsspannung 80 ... 305 VAC (47 ... 63 Hz) oder 113 ... 430 VDC Das Gerät bietet die Möglichkeit, die Anschlussleitungen eines Pyrometers komplett aufzulegen und die verschiedenen Funktionen in unterschiedlichen Leitungen zu verteilen. So ist es z.B. möglich, Analogausgang und Schnittstelle getrennt voneinander in unterschiedlichen Kabeln weiterzuleiten |
Datenblatt T24II DE [pdf, 441.34 KB] |